高精度光纖光譜儀應(yīng)用領(lǐng)域介紹
光纖光譜儀具備檢驗(yàn)高精度、更快等優(yōu)勢(shì)，已市場(chǎng)應(yīng)用于農(nóng)牧業(yè)、微生物、有機(jī)化學(xué)、地質(zhì)學(xué)、食品衛(wèi)生安全、飽和度測(cè)算、環(huán)境檢測(cè)、醫(yī)療衛(wèi)生、LED檢驗(yàn)、半導(dǎo)體材料工業(yè)生產(chǎn)、石油化工設(shè)備等行業(yè)。
一、發(fā)射光譜測(cè)量
發(fā)射光譜測(cè)量可以通過(guò)不同的實(shí)驗(yàn)布局和波長(zhǎng)范圍，以及余弦校正器或積分球來(lái)實(shí)現(xiàn)。發(fā)射光譜可以在UV/可見(jiàn)和可見(jiàn)/近紅外波段進(jìn)行測(cè)量。
為了測(cè)量發(fā)射光譜，該光譜儀可配置在200-400nm或350≤1100 nm波長(zhǎng)范圍內(nèi)，或組合成UV/Visible200-1100 nm。校準(zhǔn)后的實(shí)驗(yàn)布局不能改變，如光纖和均衡器等。
二、LED測(cè)量
測(cè)量整個(gè)LED光通量的簡(jiǎn)單、較快的方法是使用一個(gè)積分球體，并將其連接到光譜儀上。該系統(tǒng)可以利用鹵素?zé)暨M(jìn)行校準(zhǔn)(LS-1-CAL-int)，然后利用相關(guān)軟件根據(jù)測(cè)量到的光譜分布計(jì)算相關(guān)參數(shù)，實(shí)現(xiàn)輻射測(cè)量。用μW/cm2/nm可以計(jì)算、顯示和存儲(chǔ)被測(cè)光源的光譜發(fā)光強(qiáng)度。另一個(gè)窗口還可以顯示大約10個(gè)參數(shù)：輻射μW≤cm2、μJ≤cm2、μW或μJ;發(fā)光通量lux或腔、色軸X、Y、Z、y、y、u、v和色溫。
三、薄膜厚度測(cè)量
光學(xué)薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)基于白光干涉測(cè)量原理，薄膜厚度可測(cè)量10 nm-50μm，分辨率為1nm。薄膜測(cè)量通常用于半導(dǎo)體晶片的生長(zhǎng)過(guò)程，因?yàn)樾枰O(jiān)測(cè)等離子體刻蝕和沉積過(guò)程;在金屬和玻璃襯底上鍍透明光學(xué)薄膜等其他應(yīng)用也需要測(cè)量薄膜的厚度。
